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15J測量顯微鏡
用途 測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，用途如下： 1．直角坐標中測定長度，例如測定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。 2．轉動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規(guī)、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。 3．用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。 規(guī)格
放大倍數(shù)：25X、100X X軸移動測量范圍：50 mm Y軸移動測量范圍：13 mm 測微器分度值：0.01mm（15JE型 數(shù)顯：分度值0.001 mm） 測量臺轉動范圍：不限 測量臺刻度盤分度范圍：0°-360° 測量臺刻度盤之分度值：1° 測量臺刻度盤游標讀數(shù)示值：6’ 測量精度 儀器示值誤差：±（5+L/15）μm 儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差 注：測量地點溫度變化（20±3）℃ L-被測件長度（mm） 儀器主要尺寸 測量臺與物鏡間之最大距離：80mm 測量工作臺直徑：120mm 儀器外形尺寸 262×220×325mm |
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